Anyagtudományi analitikai vizsgálati módszerek

Material Science Analysis Methods

A tantárgyleírás hatályossága

Hatályosság kezdete:

2026. March 21.

Hatályosság vége:

—

Tantárgy neve (magyarul, angolul)

Anyagtudományi analitikai vizsgálati módszerek

Material Science Analysis Methods

Tantárgykód

BMEVESAM202

Tantárgyjelleg

—

Képzési szint

—

Kurzustípusok és óraszámok (heti/féléves)

Kurzustípus	elmélet	gyakorlat	laboratóriumi gyakorlat
óraszám (heti)	2	0	2
jelleg (kapcsolt/önálló)	—	—	kapcsolt

Tanulmányi teljesítmény/értékelés típusa

félévközi érdemjegy

Tantárgy kreditértéke

Tantárgyfelelős

DR. Madarász János

beosztás: egyetemi docens

elérhetőség: madarasz.janos@vbk.bme.hu

Tantárgyat gondozó oktatási szervezeti egység

Szervetlen és Analitikai Kémia Tanszék

Kar

Vegyészmérnöki és Biomérnöki Kar

Tantárgy weboldala

http://oktatas.ch.bme.hu/oktatas/konyvek/anal/Anyagtudomanyi-analitikai-vizsgalati-modszerek/

Tantárgy elsődleges mintatantervi jellege

—

Közvetlen előkövetelmények – Erős előkövetelmény

nincs

Közvetlen előkövetelmények – Gyenge előkövetelmény

nincs

Közvetlen előkövetelmények – Párhuzamos előkövetelmény

nincs

Közvetlen előkövetelmények – Mérföldkő előkövetelmény

nincs

Közvetlen előkövetelmények – Kizáró feltétel

nincs

Célkitűzés

Tantárgyprogram

Előadások és számonkérések: 22 óra

1. Röntgenanalitika (XRD, XRF), alapok

2. Röntgenanalitika (XRD), alkalmazások

3. Infravörös- és Raman spektroszkópia (IR, Raman), alapok

4. Infravörös-és Raman spektroszkópia (NIR, Raman), alkalmazások

5. Digitális optikai mikroszkópia (DOM)

6. Elektronmikroszkópia és elektronsugaras mikroanalízis (SEM-EDX)

7. Tűszondás mikroszkópiai módszerek

8. Fotoelektronspektroszkópia (XPS, UPS), • szekunder ion tömegspektroszkópia (SIMS)

9. Részecskeméret analízis (PSA)

10. 1. zh: az előadások anyagából

11. 2. zh: a laboratóriumi gyakorlatok és a hozzájuk tartozó elméleti alapok anyagából

Laboratóriumi gyakorlatok: 31 óra

1. Az elektronrendszer gerjesztésén alapuló anyagvizsgálati módszerek

• Fotoelektronspektroszkópia (XPS, UPS) 2.5 óra

A rács gerjesztésén alapuló anyagvizsgálati módszerek

• Szekunder ion tömegspektroszkópia (SIMS) 2,5 óra

• Infravörös spektroszkópia (FT-IR) 2,5 óra

• Raman spektroszkópia 3 óra

Szerkezet- és felületvizsgálati módszerek

• Röntgenanalitika (XRD) 5 óra

• Elektronmikroszkópia, elektronsugaras mikroanalízis (SEM-EDX) 5 óra

•Tűszondás mikroszkópiai módszerek (EC-AFM, nanoidentator) 2,5 óra

•Digitális optikai mikroszkópia (DOM) 2,5 óra

•Részecskeméret analízis (PSA) 2,5 óra

•Pótlabor 3 óra

A tárgy célja, hogy megismertesse a hallgatókat a modern felületanalitikai vizsgálati módszerek alapelemeivel, és erre alapozva bemutassa az analitikai (összetételi és szerkezeti) információ megszerzését lehetővé tevő alkalmazási területeket, a belőlük nyerhető információt. A laborgyakorlatok során a hallgatók demonstrációs (csoportosan végzett) mérések révén közvetlenül is megismerkednek a bemutatott módszerek mindegyikével.

Tanulmányi eredmények

Ez a tantárgy a KKK rendeletben meghatározott, következő kompetenciák fejlesztését szolgálja:

Tudás

Ismeri a modern anyagvizsgálati módszerek alapelveit, az ezekre épülő analitikai és szerkezetvizsgálati mérési eljárásokat: - Az elektronrendszer gerjesztésén alapuló anyagvizsgálati módszereket (XPS, UPS), - A rács gerjesztésén alapuló anyagvizsgálati módszereket (SIMS, IR, Raman) - A szerkezet- és felületvizsgálat egyes módszereit (XRD, SEM-EDX, DOM, AFM) - A részecskeméret analízis modern módszereit (PSA). Ismeri a modern anyagvizsgálati mérési módszerekkel nyerhető analitikai (minőségi és mennyiségi) információk felhasználásának lehetőségeit és korlátait.

Képességek

Képes a modern anyagvizsgálati analitikai mérések elvégzésére, a mérési adatok szakszerű dokumentálására, feldolgozására és értékelésére. Képes a különböző anyagvizsgálati módszerekkel nyert információk szintézisére, s ezek alapján összetett anyagvizsgálati feladatok megoldására.

Attitűd

Nincsenek rögzített tanulási eredmények.

Autonómia és felelősség

Nincsenek rögzített tanulási eredmények.

Oktatási módszertan

Előadás ill. demonstrációs labor

Tanulástámogató anyagok

Online források

1. Deák P, Giber J, Kocsányi L., Műszaki Fizika III (Műegyetemi Kiadó 1991; 050001); 2. H. Ibach, H. Lüth, Introduction to Solid State Physics (Springer, Berlin 1990); 3. H. Lüth, Surfaces and Interfaces of Solid Materials (Springer, Berlin 1995); 4. O. Brümmer, J. Heydenneich, K.H. Krebs, H.G. Schneider: Szilárd testek vizsgálata elektronokkal, ionokkal és röntgensugárzással (Műszaki Könyvkiadó, Budapest 1984); 5. Veszprémi T, Elméleti kémia (Műegyetemi Kiadó 1996; 65016); 6. Balázsné Bihari E., Kálmán E., Nagy P.: Pásztázó tűszondás mikroszkópia, Válogatott fejezetek a műszaki felülettudományból, Műegyetemi kiadó, Budapest 4. 80-137 (1998); 7. Pozsgai I.: A pásztázó elektronmikroszkópia és az elektronsugaras mikroanalízis alapjai, ELTE Eötvös Kiadó, Bp. 1995

A tantárgy teljesítéséhez ajánlott előzetes ismeretek

Tudás típusú kompetenciák

(azon előzetes ismeretek összessége, amelyek megléte nem kötelező, de a tantárgy eredményes teljesítését nagyban elősegíti)

nincs

Képesség típusú kompetenciák

(azon előzetes képességek és készségek összessége, amelyek megléte nem kötelező, de a tantárgy eredményes teljesítését nagyban elősegíti)

nincs

Ajánlott (nem kötelező) előzetesen megszerzendő kompetenciák

(azon ajánlott (nem kötelező) előzetesen megszerzendő kompetenciák összessége, amelyek jelentősen hozzájárulnak a tantárgy eredményes teljesítéséhez)

Analitikai kémia, Analitikai kémia labor, Fizika, Fizikai kémia

Általános szabályok

Követelmények: részvétel az előadások 70 %-án, részvétel a laboratóriumi gyakorlatokon, elfogadott laboratóriumi jegyzőkönyvek, az 1. és 2. zárthelyi min. 50 %-ra történő teljesítése. Pótlási lehetőségek: a pótlási héten egy laboratóriumi gyakorlat pótolható, vagy, ha a labor nem tartható meg beszámoló az oktatónál a labor anyagából. pótzárthelyi az 1. és 2. zárthelyit követő héten, oktatási időn kívül Konzultációk: kérdések a gyakorlatok során és bármikor a z illetékes oktatónál

Teljesítményértékelési módszerek

Szorgalmi időszakban végzett teljesítményértékelések részletes leírása

Nincs megadva részletes értékelés.

Szorgalmi időszakban végzett teljesítményértékelések részaránya

Nincs megadva részarány.

Vizsgaidőszakban végzett teljesítményértékelések részletes leírása

Nincs megadva részletes értékelés.

Vizsgarészek részaránya

Nincs megadva részarány.

Érdemjegy megállapítása

Nincs megadva érdemjegy határ.

Jelenléti és részvételi követelmények

Nincs megadva jelenléti követelmény.

Javítás, ismétlés és pótlás különös szabályai

Nincs megadva.

Rövid leírás

Nincs megadva.

Részletes leírás

Dr. Koczka Béla egyetemi docens Szervetlen és Analitikai Kémia

Ajánlott tantárgyak

Részvétel az előadásokon és számonkéréseken: 22 óra A laboratóriumi gyakorlatok teljesítése: 31 óra Felkészülés a zárthelyikre és a gyakorlatokra, jegyzőkönyvek elkészítése: 60 óra

A tantárgy elvégzéséhez szükséges tanulmányi munka

Nincs megadva munkaidő bontás.

Tantárgykövetelmények hatályossága

Tantárgykövetelmények hatályosságának kezdete:

—

Tantárgykövetelmények hatályosságának vége:

—

Tantervi elhelyezés

Kar	Képzés	Tanterv	Mintatantervi jelleg	Elsődleges
Default Faculty	vegyészmérnöki	Vegyészmérnöki mesterképzési szak tanterve	kötelező	nem
Default Faculty	műanyag- és száltechnológiai mérnöki	Műanyag- és száltechnológiai mérnöki mesterképzési szak tanterve	kötelező	nem
Default Faculty	Default Program	Default Curriculum	—	nem
Default Faculty	vegyészmérnöki	Vegyészmérnöki mesterképzési szak tanterve	kötelező	nem