K-INFO
HU
EN
Belépés

Monolit integrált áramkörök készítése

Processing of Monolithic Integrated Circuits
A tantárgyleírás hatályossága
Hatályosság kezdete:
Hatályosság vége:
Tantárgy neve (magyarul, angolul)
Monolit integrált áramkörök készítése
Processing of Monolithic Integrated Circuits
Tantárgykód BMEVIEEJV55
Tantárgyjelleg
Képzési szint
Kurzustípusok és óraszámok (heti/féléves)
Kurzustípus elmélet gyakorlat laboratóriumi gyakorlat
óraszám (heti) 0 0 2
jelleg (kapcsolt/önálló) önálló
Tanulmányi teljesítmény/értékelés típusa félévközi érdemjegy
Tantárgy kreditértéke 2
Tantárgyfelelős
Dr. Mizsei János
beosztás: egyetemi docens
Tantárgyat gondozó oktatási szervezeti egység
Kar
Tantárgy weboldala
Tantárgy elsődleges mintatantervi jellege
Közvetlen előkövetelmények – Erős előkövetelmény nincs
Közvetlen előkövetelmények – Gyenge előkövetelmény nincs
Közvetlen előkövetelmények – Párhuzamos előkövetelmény nincs
Közvetlen előkövetelmények – Mérföldkő előkövetelmény nincs
Közvetlen előkövetelmények – Kizáró feltétel nincs

Célkitűzés

Tantárgyprogram

1. blokk

Elvégzendő feladat ismertetése, balesetvédelmi oktatás

Félvezető fizikai ismétlés, a készítendő áramkör működése, felépítése

Kritikus tényezők és gyártási lépések, a tisztaság szerepe

2. blokk

A Si anyag megismerése: mechanikai és elektromos tulajdonságok

Típusmérés és fajlagos ellenállás mérése az alapanyagon

A tisztaszoba bemutatása, berendezések jellemzése

3. blokk

Felületelőkészítés, termikus oxidáció: elmélet és gyakorlat

Csőkemencék felépítésének, részegységeinek megismerése

Száraz és nedves oxidáció összehasonlítása, növekedési sebesség számítása

4. blokk

Fotolitográfia: lakktípusok, megvilágító rendszerek, előhívás, tisztítás jelentősége

Vastagoxid megmunkálása fotolitográfiával

Oxidvastagság mérése

5. blokk

Félvezető adalékolási eljárások

Diffúzió elméleti háttere: Fick-egyenletek, kétlépéses diffúzió, forrásanyagok

Saját diffúziós folyamat jellemzése, kézi számítás, szimuláció

6. blokk

Diffúzió elkészítő lépései

Elődiffúzió és behajtás

7. blokk

Diffúzió minősítése

Típus megváltozásának ellenőrzése, fajlagos ellenállás mérése, átmenet mélységének meghatározása

8. blokk

A gate oxid minőségének kérdései, hibák, várható következmények, hőkezelés szerepe

Nyitófeszültség csökkentésének lehetőségei

9. blokk

Gate oxid növesztése, hőkezelése

A réteg megmunkálása fotolitográfiával

10. blokk

Gate oxid minősítése: C-V mérés ismertetése, a kvázi-statikus és a nagyfrekvenciás

C-V görbe, C-T karakterisztika

C-V görbe eltolódásának és elhajlásának fizikai és technológiai okai, azok kiküszöbölése

11. blokk

Fémréteg felviteli eljárások

Fémezéssel szemben támasztott követelmények

Vákuum előállítása, mérése, szivattyúfajták, alkalmazási határok

Fémréteg leválasztása vákuumgőzöléssel, fotolitográfia, fémréteg hőkezelése

12. blokk

C-V görbe felvétele kísérőszeleten, szimulációs és a mért eredmények összehasonlítása

Töltéshordozó élettartam és alapanyag adalékolásának vizsgálata C-T méréssel

Szeleten mérés tűs mérővel, tranzisztor karakterisztikák felvétele, jellegzetes értékek mérése és kiszámítása

13. blokk

Szeletdarabolási módszerek

Kötési módok ismertetése, eutektikus ötvözés folyamata

Termokompresszió, ultrahangos kötés, további eljárások

14. blokk

Kész IC-k gyémánttűs darabolása, beültetése és ultrahangos kikötése

IC-k bemérése

Videó vetítése: gyári folyamatok összehasonlítása saját laboratóriumunkkal, kitekintés

A monolit IC technológia alapvető eljárásainak elméleti és gyakorlati bemutatása a lehető legegyszerűbb formában úgy, hogy a teljes technológiai folyamat viszonylag rövid idő alatt áttekinthető és végigvihető legyen.

Tanulmányi eredmények

Ez a tantárgy a KKK rendeletben meghatározott, következő kompetenciák fejlesztését szolgálja:

Tudás

Nincsenek rögzített tanulási eredmények.

Képességek

Nincsenek rögzített tanulási eredmények.

Attitűd

Nincsenek rögzített tanulási eredmények.

Autonómia és felelősség

Nincsenek rögzített tanulási eredmények.

Oktatási módszertan

Előadás, laboratóriumi gyakorlat Folyamatos előadás mellett minden csoport (4-6 fő) végigvisz 3 szilícium szeletet a technológiai lépéssorozaton, ahol lehetséges, minősíti az elvégzett eljárás eredményét, végül beméri a kész áramkört. (A laborműveletek időbeosztását a csoportokkal közös megbeszélés alapján alakítjuk ki).

Tanulástámogató anyagok

Online források
Kéziratos segédanyagok,; mérési útmutató; Dr. Erlaky György:; Integrált áramkörök technológiája és konstrukciója II., Műegyetemi Kiadó, 1994.; (51170); Dr. Mojzes Imre (szerk.):; Mikroelektronika és elektronikai technológia, Műszaki Könyvkiadó, 2005.

A tantárgy teljesítéséhez ajánlott előzetes ismeretek

Tudás típusú kompetenciák
(azon előzetes ismeretek összessége, amelyek megléte nem kötelező, de a tantárgy eredményes teljesítését nagyban elősegíti)
Mikroelektronika
Képesség típusú kompetenciák
(azon előzetes képességek és készségek összessége, amelyek megléte nem kötelező, de a tantárgy eredményes teljesítését nagyban elősegíti)
nincs
Ajánlott (nem kötelező) előzetesen megszerzendő kompetenciák
(azon ajánlott (nem kötelező) előzetesen megszerzendő kompetenciák összessége, amelyek jelentősen hozzájárulnak a tantárgy eredményes teljesítéséhez)
Mikroelektronika
Általános szabályok
Követelmények: A szorgalmi időszakban: Valamennyi technológiai lépés hiánytalan végigvitele, jegyzőkönyv leadása. A félév során 1 db. zárthelyit íratunk az utolsó előtti oktatási héten. Az aláírás és félévközi jegy megszerzésének feltétele a min. elégséges zh megírása. Pótlási lehetőségek: Pót ZH-t az utolsó oktatási héten, pót-pót ZH-t a pótlási héten lehet írni. A jegyzőkönyv pótlás jelleggel a pótlási héten beadható. Elmaradt technológiai lépés pótlására rendkívüli esetben más csoportba való becsatlakozással lesz lehetőség. A pótlási időszakban az elmaradt művelet pótlása a félvezető technológiai berendezések igen költséges üzemeltetése miatt nem lehetséges.
Teljesítményértékelési módszerek
Szorgalmi időszakban végzett teljesítményértékelések részletes leírása

Nincs megadva részletes értékelés.

Szorgalmi időszakban végzett teljesítményértékelések részaránya

Nincs megadva részarány.

Vizsgaidőszakban végzett teljesítményértékelések részletes leírása

Nincs megadva részletes értékelés.

Vizsgarészek részaránya

Nincs megadva részarány.

Érdemjegy megállapítása

Nincs megadva érdemjegy határ.

Jelenléti és részvételi követelmények

Nincs megadva jelenléti követelmény.

Javítás, ismétlés és pótlás különös szabályai

Nincs megadva.

Rövid leírás

Nincs megadva.

Részletes leírás

Nincs megadva.

Ajánlott tantárgyak
A tárgy nem vehető fel, ha a hallgató már kreditet szerzett a VIEEBV00 Napelemek laboratórium, a VIEEM358 Napelemkészítés vagy korábban a VIEE9356 Napelemek és VIEE9355 Monolit integrált áramkörök készítése c. tárgyakból.  
A tantárgy elvégzéséhez szükséges tanulmányi munka

Nincs megadva munkaidő bontás.

Tantárgykövetelmények hatályossága
Tantárgykövetelmények hatályosságának kezdete:
Tantárgykövetelmények hatályosságának vége:
Tantervi elhelyezés

Nincsenek rögzített tantervi elhelyezések ehhez a tárgyverzióhoz.