Quality Control and Reliability

• A minőség fogalma, a minőségellenôrzés és a -biztosítás, -irányítás kapcsolata, történeti fejlődése. A különböző minőségi rendszerek és nevezetes képviselőik, Deming, Juran, Crosby, Feigenbaum.
• Az európai minőségbiztosítási rendszer eredete, alapjai. Az ISO 9000-es minőségbiztosítási rendszer szabványelemei, valamint magyar megfelelőik, az MSZ-EN-29000/1992 és az MSZ-EN-ISO 9001-, 9002-, 9300-T (1995-10) szabványok.
• A minőségügyi rendszer és a minőségügyi tanúsítás. A minőségügyi rendszer modelljei és a minőségirányítási elvek. Az auditálás fogalma, irányelvei. A mérőberendezésekre vonatkozó irányelvek. A minőségügyi rendszer alapjai; a minőségi kör, a belső felülvizsgálatok és a rendszer működésének dokomentálása.
• A minőségügyi rendszer bevezetése. A tanúsítási folyamat lépései. A minőségügyi rendszer elemei (ISO 9001 szerint). Statisztikai módszerek a minőségügyi tevékenységben. A statisztikai folyamatellenőrzés fogalma és eljárásai, a “csodálatos hetek”.
• A megbízhatóság fogalma. A megbízhatósági függvények és összefüggéseik. Élettartammodellek. A megbízhatósági vizsgálatok és számítások gyakorlatában alkalmazott leggyakoribb valószínűségi eloszlás típusok. A meghibásodási ráta.
• Nem javítható rendszerek megbízhatósága:
  - soros és párhuzamos rendszerek,
  - aktív és passzív redundancia,
  - majoritás redundancia.
• Azonnal felújítható elemek megbízhatósága..
• Megbízhatósági vizsgálatok. A környezet és a terhelés hatása az alkatrészek megbízhatóságára. Burn-in vizsgálatok elméleti alapjai, jelentősége és stratégiái.
• Passzív elektronikus elemek élettartamvizsgálati módszerei, a szabványokban előírt vizsgálati, terhelési módszerek.
• A jellegzetes alkatrész-családok megbízhatósági jellemzői, a mikroelektronikai alkatrészek és részegységek meghibásodási mechanizmusai.
• A tesztelés elméleti alapjai. Random szekvenciák generálása. A lineárisan visszacsatolt shift regiszter. Teszt adat tömörítés, szignatúra. A tömörítés okozta hiba-elfedés.
• IC-k meghibásodási mechanizmusai (gyártási lépések, tokozás, emberi környezet, stb.). Arrhenius egyenlet, aktivációs energia. Hibamodellek, hibaszimuláció. Digitális bipoláris és MOS áramkörök hibamodellei. A memória hibamodellek.
• A kombinációs hálózatok tesztelése. Az automatikus tesztgenerálás módjai (D algoritmus, Boole-differenciák).
• A szekvenciális hálózatok tesztelésének alapproblémái. Beállíthatóság, megfigyelhetőség. A tesztelhetőre tervezés elve. Szinkron és aszinkron hálózatok.
• A scan design típusú megoldások. LSSD (level-sensitive scan design), a random-access scan, a T-cellák használata.
• A beépített önteszt lehetőségei. Beépített teszt pattern generálás és teszt eredmény értékelés. LFSR használata random tesztvektor generálásra. Szignatúra analízis, teszt adat tömörítés. A BILBO áramkörök (built-in logical block observer).
• Az on-line tesztelés elve. Nagymegbízhatóságú IC-k on-line teszteléssel.
• Az IC-k termikus tesztelésének kérdései.
• A szerelt egységek összeépítésének tesztelése. A boundary scan szabvány. Boundary scan áramkör beépítése az IC-be. A TAP kontroller állapotai. Az I/O cella. A boundary scan programozása.
• A számítógép-vezérelt IC mérőautomaták felépítése, jellemzőik. Sztatikus, funkcionális és dinamikus mérések. Szeletmérő automaták. A mérések helye az IC gyártás folyamatában. A mérőautomaták programozása.
• Laboratóriumi jellegű szelet-mérések: elektronsugaras, lézersugaras.
• Memóriák tesztelése. Memória teszt szekvencia generálás, memória mérő berendezések.
• Analóg és analóg/digitális integrált áramkörök tesztelése. Típuskártyák, cél mérőautomaták. Műveleti erősítők, analóg alapáramkörök tesztelése.

A mikroelektronikai elemek egyéb ellenőrző mérései. Karakterisztika, zaj, határfrekvencia, kapacitás stb. mérés elve és gyakorlati megvalósítása.