K-INFO
HU
EN
Belépés

Elektronikai rendszerek vizsgálati módszerei

Investigation Methods of Electronic Systems
A tantárgyleírás hatályossága
Hatályosság kezdete:
2026. March 21.
Hatályosság vége:
—
Tantárgy neve (magyarul, angolul)
Elektronikai rendszerek vizsgálati módszerei
Investigation Methods of Electronic Systems
Tantárgykód BMEVIETMA11
Tantárgyjelleg —
Képzési szint —
Kurzustípusok és óraszámok (heti/féléves)
Kurzustípus elmélet gyakorlat laboratóriumi gyakorlat
óraszám (heti) 2 1 0
jelleg (kapcsolt/önálló) — kapcsolt —
Tanulmányi teljesítmény/értékelés típusa vizsga
Tantárgy kreditértéke 5
Tantárgyfelelős
DR. Illés Balázs György
beosztás: egyetemi tanár
Tantárgyat gondozó oktatási szervezeti egység
Elektronikai Technológia Tanszék
Kar Villamosmérnöki és Informatikai Kar
Tantárgy weboldala —
Tantárgy elsődleges mintatantervi jellege —
Közvetlen előkövetelmények – Erős előkövetelmény nincs
Közvetlen előkövetelmények – Gyenge előkövetelmény nincs
Közvetlen előkövetelmények – Párhuzamos előkövetelmény nincs
Közvetlen előkövetelmények – Mérföldkő előkövetelmény nincs
Közvetlen előkövetelmények – Kizáró feltétel nincs

Célkitűzés

Tantárgyprogram

Előadások: 

1. Bevezetés

A tárgy követelményeinek ismertetése. A vizsgálati és hibaanalitikai tevékenység motivációi, helye és szerepe az elektronikai gyártás és minőségbiztosítás területén. Alkalmazott módszerek csoportosítási lehetőségei. A modellezés alapjainak bemutatása, története: a modellezés fogalma, célja, kapcsolata a természetes emberi gondolkodással. Modellek csoportosítása több szempont szerint, a gyártási folyamatok modellezésének elhelyezése.

2. Optikai vizsgálatok.

Optikai mikroszkópia, mikroszkóp típusok, felépítésük, megvilágítási módok. Az optikai rendszerek hibái, a felbontást és mélységélességet korlátozó tényezők.

3. Röntgenes szerkezetvizsgálatok.

Röntgensugárzás keletkezése, jellemzői. Röntgenmikroszkópok megvalósítási formái, felépítésük. Detektor típusok, képalkotási, képfeldolgozási lehetőségek. előadás)

4-5. Pásztázó elektronmikroszkópia (2 előadás)

Elektronmikroszkóp felépítése, az elektronoptikai rendszer hibái. Gerjesztett térfogat, szekunder és visszaszórt elektronok, karakterisztikus röntgensugárzás keletkezése. Válaszjelek detektálása. Elektronsugaras mikroanalízis.

6-7. Anyagösszetétel meghatározási módszerek (2 előadás)

Gerjesztő és válaszjel (elektronok, ionok, röntgen fotonok) kapcsolata, módszerek csoportosítása. XRF-röntgenfluoreszcens spektroszkópia. Infravörös spektroszkópia. A módszerek összehasonlítása alkalmazási terület, detektálási határok, detektálható elemek, felbontás szempontjából.

8. Modellezési alapok az elektronikai termékek validációjához

A modellezés szerepe és helye a termékek fejlesztésében és vizsgálatában. A numerikus és analitikus deriválás kapcsolata. A numerikus deriválás hibái, a hiba közelítésnek lehetőségei és a hiba csökkentése. Numerikus deriválási formulák (előre és hátra lépő, centrális). Numerikus integrálási módszerek és közelítési hibáik. Differenciálegyenletek szerepe, fajtái, bemutatása (szemléletesen, a technológia folyamatainak gyakorlati példáin keresztül). Modellek csoportosítása a leíró differenciálegyenletek szerint.

9. Áramkörök modellezése.

Áramköri szimuláció szerepe. Szimulációs programok felépítése. Áramköri szimulációk fontosabb típusai. Alkatrész modellek. Az összekapcsolási kényszerek, hálózati egyenletek kezelése, admittancia és incidenciamátrix jelentősége. Ágegyenletek (karakterisztikák) kezelése. Lineáris és nem lineáris egyenáramú hálózatok leírása, valamint kisjelű váltakozóáramú vizsgálat.

10. Hőterjedés és diffúzió

A hőterjedés (hővezetés, konvenció és radiáció), a hőátadás és a diffúzió jelenségének a bemutatása és matematikai leírásuk tárgyalása. Termikus modellezés szerepe az elektronikai technológiában. A termikus-villamos analógia ismertetése.

11-12. Áramlástan (2 előadás)

Hűtési megoldások az elektronikus eszközökben (hűtőbordák, folyadék és fázisátalakulásos hűtés). Áramlástani esetek megközelítése és csoportosítása. Skalár és vektor mennyiségek szerepe az áramlástan matematikai leírásában. Folytonossági tétel értelmezése az áramlástanban. Lamináris áramlások leírása a Bernoulli, Euler és Navier-Stokes egyenletekkel. Turbulens áramlások értelmezése és a szerepe a mérnöki gyakorlatban. CFD (Cumputional Fluid Dynamics) módszerek bemutatása, különösen a RANS módszeré. Turbulens áramlások numerikus szimulációja a k-e módszerrel.

13. Mechanika és termomechanika

A szilárdságtan fogalma és elhelyezése a mechanikában. Mechanikai feszültség felírása általános esetben. A feszültség hatása a szilárd testekre, feszültség elméletek (Coulomb, Mohr és Mises Modell. Mechanikai feszültség kialakulása hő hatására (hőtágulás). Szakító vizsgálatok: a tartós folyás és általános kúszás ismertetése. Termomechanikai szimulációk az elektronikai technológiában. 

 

Gyakorlatok:

1. Elektronikai termékek hibajelenségeinek összefoglalása, csoportosítási szempontok

bemutatása

2. Hibaanalitikai vizsgálatok vizsgálati tervének elkészítése.

3. Dokumentálás, szakértői jelentések készítése, értelmezése.

4. Hibaanalitikai módszerek összehasonlító elemzése esettanulmányok segítségével.

5. Modern szimulációs eszközök bemutatása (MATLAB, Comsol, Ansys)

6. Gőzfázisú forrasztó kemence modellezése MATLAB környezetben 1

7. Gőzfázisú forrasztó kemence modellezése MATLAB környezetben 2 

 

A tantárgy célja, hogy megismertesse a hallgatókat azokkal a vizsgálati módszerekkel és technikákkal, amelyek az elektronikai rendszerek meghibásodása során keletkező hibák gyökérokainak feltárását segítik, valamint, hogy használható tudás adjon a hallgatóknak az elektronikai rendszerek működésének-, megfelelőségének vizsgálatára irányuló modellezési és szimulációs lehetőségeiről. Az elektronikai rendszerek rutin vizsgálati eszköztárának, mikroszkópos módszerek (optikai, röntgen, pásztázó elektronmikroszkóp, akusztikus mikroszkóp), elemi és anyagösszetétel meghatározási módszereinek bemutatása. Készülék, nyomtatott áramköri és integrált áramköri szintű vizsgálati módszerek. Gyakorlati példák bemutatása hiba gyökérok meghatározásra és folyamatvalidációs tesztekre. Az elektronikai rendszerekben leggyakrabban előforduló fizikai, kémiai, és elektrokémiai jelenségek bemutatása, modellezése. Valós folyamatok, rendszerek elemzése: több jelenség egyidejű megjelenése, a törvények „egymásba kapcsolódása”. A hallgatók modellezési készségének fejlesztése modellezési problémák bemutatása segítségével.

Tanulmányi eredmények

Ez a tantárgy a KKK rendeletben meghatározott, következő kompetenciák fejlesztését szolgálja:

Tudás

Nincsenek rögzített tanulási eredmények.

Képességek

Nincsenek rögzített tanulási eredmények.

Attitűd

Nincsenek rögzített tanulási eredmények.

Autonómia és felelősség

Nincsenek rögzített tanulási eredmények.

Oktatási módszertan

Előadás és tantermi gyakorlat

Tanulástámogató anyagok

Online források
Electronic Failure Analysis Handbook – Perry L. Martin, McGraw-Hill, 1999; Szabványos vizsgálati módszerek – IPC TM-650; A pásztázó elektronmikroszkópia és az elektronsugaras mikroanalízis alapjai – Pozsgai Imre, ELTE; Eötvös Kiadó, Budapest, 1995; Illés Balázs és Sinkovics Bálint: Technológiai Folyamatmodellezés, BME printer, sz.: 2014

A tantárgy teljesítéséhez ajánlott előzetes ismeretek

Tudás típusú kompetenciák
(azon előzetes ismeretek összessége, amelyek megléte nem kötelező, de a tantárgy eredményes teljesítését nagyban elősegíti)
Mikroelektronika, Elektronikai Technológia
Képesség típusú kompetenciák
(azon előzetes képességek és készségek összessége, amelyek megléte nem kötelező, de a tantárgy eredményes teljesítését nagyban elősegíti)
nincs
Ajánlott (nem kötelező) előzetesen megszerzendő kompetenciák
(azon ajánlott (nem kötelező) előzetesen megszerzendő kompetenciák összessége, amelyek jelentősen hozzájárulnak a tantárgy eredményes teljesítéséhez)
Mikroelektronika, Elektronikai Technológia
Általános szabályok
Követelmények: 1 db zárthelyi sikeres megírása (min. 45%) és 1 db (szimulációs) házifeladat elkészítése. Pótlási lehetőségek: A félév során lehetőséget adunk a nagyzárthelyi pótlására. A házifeladat ismételt beadása a pótlási héten.
Teljesítményértékelési módszerek
Szorgalmi időszakban végzett teljesítményértékelések részletes leírása

Nincs megadva részletes értékelés.

Szorgalmi időszakban végzett teljesítményértékelések részaránya

Nincs megadva részarány.

Vizsgaidőszakban végzett teljesítményértékelések részletes leírása

Nincs megadva részletes értékelés.

Vizsgarészek részaránya

Nincs megadva részarány.

Érdemjegy megállapítása

Nincs megadva érdemjegy határ.

Jelenléti és részvételi követelmények

Nincs megadva jelenléti követelmény.

Javítás, ismétlés és pótlás különös szabályai

Nincs megadva.

Rövid leírás

Nincs megadva.

Részletes leírás
IMSc program: - IMSc pontok: -
Ajánlott tantárgyak
Nincs
A tantárgy elvégzéséhez szükséges tanulmányi munka

Nincs megadva munkaidő bontás.

Tantárgykövetelmények hatályossága
Tantárgykövetelmények hatályosságának kezdete:
—
Tantárgykövetelmények hatályosságának vége:
—
Tantervi elhelyezés

Nincsenek rögzített tantervi elhelyezések ehhez a tárgyverzióhoz.