Beágyazott rendszerek analízise laboratórium

A szemeszter során 5 tematikus mérésre kerül sor. Ezek a következők:

• Mérések digitális oszcilloszkóppal. A mérés célja a digitális oszcilloszkópok bemutatása, megismerése. A mérési feladatok a digitális oszcilloszkópok azon funkcióit hangsúlyozzák, amelyek az analóg oszcilloszkópokon nem, vagy csak korlátozottan alkalmazhatók.
• Mérések spektrumanalizátorokkal. A mérés célja heterodin és FFT alapú spektrumanalizátorok bemutatása, megismerése. A mérési feladatok rávilágítanak a jelek és rendszerek frekvenciatartománybeli jellemzésének előnyeire, illetve a különböző mérési módszerek közötti különbségekre.
• A/D és D/A átalakítók vizsgálata. A mérés célja az A/D és D/A átalakítás folyamatának megismerése. PC-hez csatlakoztatott jelfeldolgozó kártyák és számítógépes programok segítségével lehetőség nyílik az A/D és D/A átalakítás lineáris és nemlineáris torzításának vizsgálatára.
• Elektronikus mérleg vizsgálata. A mérés célja, hogy a hallgatók megismerjék a nyúlásmérő hidak alkalmazását. A mérés tárgya egy mechanikus mérlegre szerelt, nyúlásmérő bélyegekkel kialakított vivőfrekvenciás mérőhíd, illetve a jelek feldolgozására alkalmas DSP-alapú mérőrendszer. A feladatok végigkövetik a teljes jelátalakítási folyamatot.
• Rezgésanalízis. A mérés célja egy másik gyakran alkalmazott beágyazott rendszer: egy rezgésanalizátor vizsgálata. A mérési feladatok megoldása során megismerhetők a gyorsulásérzékelők, mikrofonok és a hozzájuk szükséges elektronikus eszközök, továbbá a feszültséggé alakított jelek feldolgozásának eszközei.