Subject » BMEVIETD223
Instrumental Analytics in Electronics Technology
Műszeres analitika az elektronikai technológiában
A tantárgyleírás hatályossága
Hatályosság kezdete:
2026. March 21.
Hatályosság vége:
—
| Subject name (Hungarian, English) |
Műszeres analitika az elektronikai technológiában
Instrumental Analytics in Electronics Technology
|
||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Subject code | BMEVIETD223 | ||||||||||||
| Subject type | — | ||||||||||||
| Training Level | — | ||||||||||||
| Course types and hours (weekly/semester) |
|
||||||||||||
| Assessment type | vizsga | ||||||||||||
| Credits | 5 | ||||||||||||
| Subject coordinator |
DR. Gordon Péter Róbert
position: egyetemi docens
contact:
gordon.peter@vik.bme.hu
|
||||||||||||
| Responsible department |
Elektronikai Technológia Tanszék
|
||||||||||||
| Faculty | Villamosmérnöki és Informatikai Kar | ||||||||||||
| Subject website | — | ||||||||||||
| Primary curriculum type | — | ||||||||||||
| Direct prerequisites – Strong prerequisite | none | ||||||||||||
| Direct prerequisites – Weak prerequisite | none | ||||||||||||
| Direct prerequisites – Parallel prerequisite | none | ||||||||||||
| Direct prerequisites – Milestone prerequisite | none | ||||||||||||
| Direct prerequisites – Exclusion | none |
Objectives
Programme
Topográfiai, szerkezeti vizsgálatok:
- SEM (Scanning Electron Microscope, pásztázó elektron mikroszkóp) [1, 3]
- TEM (Transmission Electron Microscope, transzmissziós elektron mikroszkóp) [2, 3]
- AFM (Atomic Force Microscope, atomerő mikroszkóp) [4, 5]
- Kontakt és nem kontakt mérési módok
- AFM-hez kapcsolódó egyéb SPM módszerek (pl. Magnetic Force Microscopy, Electrostatic Force Microscopy, stb.)
- STM (Scanning Tunneling Microscope, pásztázó alagút mikroszkóp) [4, 5]
- CLSM (Confocal Laser Scanning Microscope, konfokális pásztázó lézer mikroszkóp)
- Near-field Scanning Optical Microscopy (NSOM) [4]
- XRF (X-ray Fluorescent Analysis, röntgen fluoreszcens analízis/spektroszkópia) [1, 3]
- Auger elektron spektroszkópia [3]
- UPS (Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy, ultraibolya fotoelektron spektroszkópia) [3]
- XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy, röntgen fotoelektron spektroszkópia) [3]
- elektron mikroszonda (WDXS és EDXS – Wavelength/Energy Dispersive X-ray Spectroscopy, hullámhossz és energia diszperzív röntgen spektroszkópia) [3]
- XRD (X-ray Diffraction, röntgen diffraktometria) [3]
- SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry, szekunder ionemissziós tömegspektroszkópia) [3, 5]
- SNMS (Secondary Neutral Mass Spectrometry, szekunder ionemissziós tömegspektroszkópia) [3, 5]
A tantárgy célja, hogy a hallgatók megismerjék azokat az analitikai módszereket, melyeket az elektronikai technológia terüléten alkalmazott eszközök, alkatrészek és struktúrák topográfiai és anyagösszetétel jellemzőinek meghatározására használhatnak.
A tárgyat teljesítő hallgató képessé válik adott feladathoz a megfelelő analitikai módszer kiválasztására, melyet a módszerrel nyerhető információk és a korlátozó tényezők alapján dönt el.
Learning outcomes
Ez a tantárgy a KKK rendeletben meghatározott, következő kompetenciák fejlesztését szolgálja:
Knowledge
No learning outcomes recorded.
Skills
No learning outcomes recorded.
Attitudes
No learning outcomes recorded.
Autonomy and responsibility
No learning outcomes recorded.
Oktatási módszertan
Heti két alkalommal 2x45 perces előadás
Tanulástámogató anyagok
Not provided.
Recommended preliminary knowledge for completing the subject
Knowledge type competencies
(azon előzetes ismeretek összessége, amelyek megléte nem kötelező, de a tantárgy eredményes teljesítését nagyban elősegíti)
Fizika, Anyagtudomány
Skill type competencies
(azon előzetes képességek és készségek összessége, amelyek megléte nem kötelező, de a tantárgy eredményes teljesítését nagyban elősegíti)
nincs
Recommended (non-compulsory) preliminary competencies
(azon ajánlott (nem kötelező) előzetesen megszerzendő kompetenciák összessége, amelyek jelentősen hozzájárulnak a tantárgy eredményes teljesítéséhez)
Fizika, Anyagtudomány
General rules
Követelmények:
a. A szorgalmi időszakban:
Egy zárthelyi a 12. héten. Az aláírás feltétele legalább elégséges zárthelyi eredmény.
b. A vizsgaidőszakban:
Szóbeli vizsga
Pótlási lehetőségek:
Sikertelen zárthelyi pótlása a pótlási héten. Pót-pót ZH a pótlási héten.
Assessment methods
In-term assessments
No detailed assessments provided.
Weight of in-term assessments
No weights provided.
Exam-period assessments
No detailed assessments provided.
Weight of exam elements
No weights provided.
Grade calculation
No grade thresholds provided.
Attendance requirements
No attendance requirements provided.
Rules for retake and resubmission
Not provided.
Short description
Not provided.
Detailed description
Not provided.
Recommended courses
Nincs
Workload to complete the subject
No workload breakdown provided.
Validity of subject requirements
Requirements valid from:
—
Requirements valid until:
—
Curriculum placement
No curriculum placements recorded for this subject version.